金屬涂層與其物理性能、化學(xué)性能有很大關(guān)系，將會直接影響涂層的實(shí)際應(yīng)用效果。因此，金屬厚度的測量與控制是涂層質(zhì)量的重要控制指標(biāo)，需要使用專業(yè)的檢測儀器涂層測厚儀來進(jìn)行測量。
一、金屬涂層厚度怎么測？
物體的厚度是指物體的兩個平行平面之間的距離，一般情況下，物體表面的微觀不平，對物體厚度的測量不會造成影響。據(jù)此，金屬鍍層的厚度就應(yīng)當(dāng)是從基片與薄膜的結(jié)合平面到薄膜表面平面的垂直距離。但是由于基片與薄膜的結(jié)合面和薄膜表面是不平整的，薄膜也可能是不連續(xù)的，薄膜也可能是不連續(xù)的，而且薄膜的內(nèi)部還可能存在著氣孔、缺陷和雜質(zhì)。所以，嚴(yán)格地定義和準(zhǔn)確地測量薄膜厚度實(shí)際上是非常困難的，在膜厚實(shí)際測量中，膜層的厚度測量結(jié)果隨所用測量方法而異，同一個薄膜，不同的測量方法會得到不同的測量結(jié)果。因此，應(yīng)當(dāng)根據(jù)金屬涂膜應(yīng)用目的和薄膜的性質(zhì)選用適當(dāng)?shù)哪ず駵y量方法。
二、金屬涂層厚度一般多少？
不同金屬涂層厚度要求是不一樣的。對于不同金屬材料所使用的各種涂料的干膜厚度，通常由涂裝說明書做出規(guī)定，被規(guī)定的涂膜稱為規(guī)定厚度。規(guī)定厚度一般指必須基本得到保證的厚度值，但不意味著被涂表面的任何一處的干膜厚度均要達(dá)到或超過這一數(shù)值。判斷膜厚是否達(dá)到規(guī)定要求，應(yīng)該根據(jù)干膜厚度測定值的分布狀態(tài)分析認(rèn)定。對于干膜厚度分布狀態(tài)的要求，不同國家要求不盡相同。GB/T 3718規(guī)定：85%以上的檢測點(diǎn)干膜厚度不小于規(guī)定膜厚，其余檢測點(diǎn)的干膜厚度不小于規(guī)定膜厚的85%（通常簡稱兩個85%）。兩個90%：90%以上的檢測點(diǎn)干膜厚度不小于規(guī)定膜厚，其余檢測點(diǎn)的干膜厚度不小于規(guī)定膜厚的90%。例如，兩個85%：規(guī)定膜厚為100μm，在檢測的20個點(diǎn)中，要有17個點(diǎn)的膜厚在100μm以上，其余3個點(diǎn)的膜厚不能低于85μm。
三、金屬涂層厚度的檢測方法：
金屬涂層厚度的測量對涂膜物性檢測至關(guān)重要，隨著科技的進(jìn)步，近幾年來涂膜厚度測量技術(shù)發(fā)展也十分迅速，各類測厚儀的智能化日新月異，這些測厚儀基于各種不同的原理，廣泛應(yīng)用到各種領(lǐng)域。涂膜厚度測量，方法多樣，測試原理各不相同。在國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T6463-86《金屬和其他覆蓋層厚度測量方法評述》中，將涂膜厚度測量分為無損法和破壞法兩類。就涂膜測厚儀的應(yīng)用而言，目前國內(nèi)外仍普遍采用磁性法、渦流法、N射線光譜法和射線反向散射法等無損法測量。
例如渦流膜厚測厚儀，用于測量鋁型材表面氧化膜或絕緣涂層厚度。這種測厚儀輕便，操作簡單，性能穩(wěn)定，適用于鋁型材膜厚現(xiàn)場檢測，精度±3%。而紅外膜厚傳感器專用于金屬板帶表面漆膜厚度連續(xù)檢測。測量系統(tǒng)根據(jù)涂層的紅外能量吸收原理和漆膜下的金屬表面反射回的能量來測出膜厚?？蓽y量鋁容器，密封蓋，飲料罐的涂層厚度測量。
