涂層厚度檢測(cè)是衡量涂裝質(zhì)量的重要指標(biāo)之一，,在產(chǎn)品質(zhì)量、過(guò)程控制和成本控制中都發(fā)揮著重要的作用。涂層的厚度在很大程度上影響著產(chǎn)品的可靠性和使用價(jià)值。為了準(zhǔn)確的測(cè)定涂膜平均厚度，就需要漆膜儀在規(guī)定的部位進(jìn)行取點(diǎn)測(cè)量。本文就給大家?guī)?lái)漆膜測(cè)厚儀檢測(cè)方法以及待測(cè)試樣的要求，感興趣的用戶(hù)不妨來(lái)看看吧！

       涂層厚度怎么檢測(cè)？

       涂層的厚度在很大程度上影響著受涂產(chǎn)品的可靠性和使用價(jià)值。通過(guò)對(duì)涂層厚度的檢測(cè)，除了評(píng)定有公差指標(biāo)或修復(fù)尺寸要求的涂件是否合理外，還能直接或間接地評(píng)估涂層的耐蝕性、耐磨性、孔隙率等性能。因此，它在涂層質(zhì)量檢驗(yàn)和工藝研究中被普遍采用。

       涂層厚度的檢驗(yàn)，一般分為涂層平均厚度和局部厚度兩類(lèi)檢驗(yàn)方法。由于局部厚度比平均厚度在實(shí)際應(yīng)用中更能反映產(chǎn)品的質(zhì)量，所以在多數(shù)情況下采用測(cè)量涂層的局部厚度或局部平均厚度。測(cè)厚時(shí)至少應(yīng)在有代表性或規(guī)定部位測(cè)量三個(gè)以上厚度，并計(jì)算其平均值作為測(cè)量厚度的結(jié)果。

       涂層厚度檢驗(yàn)方法有破壞檢測(cè)法和非破壞檢測(cè)法（無(wú)損檢測(cè)法）兩大類(lèi)。屬于破壞檢測(cè)法的有點(diǎn)滴法、液流法、化學(xué)溶解法、電量法、金相顯微鏡法、輪廓法及干涉顯微鏡法等多種；屬于非破壞檢測(cè)法的有磁性法、渦流法、X射線(xiàn)熒光測(cè)厚法、β射線(xiàn)反向散射法、光切顯微鏡法以及能譜法等等。破壞性測(cè)厚法一般適用于非貴重涂件或大批涂件加工的產(chǎn)品。非破壞測(cè)厚法適用于某些貴重或精密的涂件產(chǎn)品。

       漆膜測(cè)厚儀測(cè)量試樣要求：

       不同漆膜測(cè)厚儀應(yīng)用的原理不同，對(duì)待測(cè)試樣的要求也是不一樣的。如常用的磁性測(cè)厚儀，就是用于測(cè)量磁性基材表面非磁性漆膜厚度的儀器。使用磁性測(cè)厚儀進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，應(yīng)在涂層干燥后和外觀檢測(cè)合格后進(jìn)行，待測(cè)試件表面不應(yīng)有結(jié)露。每個(gè)試樣檢測(cè)5處，每處以3個(gè)相距不小于50mm測(cè)點(diǎn)的平均值作為該處涂層厚度的代表值。以試樣上所有測(cè)點(diǎn)的平均值作為該構(gòu)件涂層厚度的代表值。測(cè)點(diǎn)部位的涂層應(yīng)與鋼材附著良好。具體的檢測(cè)步驟如下：

       ①調(diào)零。取出探頭，插入儀器的插座上。將已打磨未涂漆的底板（與被測(cè)漆膜底材相同擦洗干凈，把探頭放在底板上按下電鈕，再按下磁芯，當(dāng)磁芯跳開(kāi)時(shí)，如指針不在零位，應(yīng)旋動(dòng)調(diào)零電位器，使指針回到靈位，需重復(fù)數(shù)次。如無(wú)法調(diào)零，需更換新電池。）

       ②校正。取標(biāo)準(zhǔn)厚度片放在調(diào)零用的底板上，再將探頭放在標(biāo)準(zhǔn)厚度片上，按下電鈕，再按下磁芯，待磁芯跳開(kāi)后旋轉(zhuǎn)標(biāo)準(zhǔn)鈕，使指針回到標(biāo)準(zhǔn)片厚度值上，需重復(fù)數(shù)次。

       ③測(cè)量。取距樣板邊緣不少于1cm的上、中、下三個(gè)位置進(jìn)行測(cè)量。將探頭放在樣板上，按下電鈕，再按下磁芯，使之與被測(cè)漆膜完全吸合，此時(shí)指針緩慢下降，待磁芯跳開(kāi)表針?lè)€(wěn)定時(shí)，即可讀出漆膜厚度值。取各點(diǎn)厚度的算術(shù)平均值為漆膜的平均厚度值。